反射膜厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
貴金屬檢測(cè)
貴金屬檢測(cè)其分析方法是具有能量分辨率的X射線探測(cè)器同時(shí)探測(cè)樣品所發(fā)出的各種能量特征X射線,.....
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR
X射線熒光（XRF）光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對(duì)固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析，檢測(cè)限值.....
納米壓痕儀/納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng) Hysitron TI 980
TI980是多樣化的納米力學(xué)表征工具，在納米力學(xué)表征中提供高水平的優(yōu)異性能、增強(qiáng)功能及多樣.....
晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)
FSM413回波探頭傳感器使用具有紅外（IR）干涉測(cè)量技術(shù)
反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
直讀光譜儀
臺(tái)式直讀光譜儀是一款具備技術(shù)靈活性和操作便利性的火花直讀光譜儀.采用通道光電倍增管技術(shù),數(shù).....
移動(dòng)式微區(qū)XRF元素成像光譜儀 M6 JETSTREAM
高分辨率、快速成像、大面積微區(qū)XRF成像光譜儀
反射膜厚儀
采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域
藝術(shù)與考古分析儀
TRACER 5i是Bruker公司2016年底發(fā)布的科研型手持式XRF設(shè)備，也稱便攜式X.....
輕便型直讀光譜儀Q2 ION
Q2 ION是一款適合于金屬材料分析的輕便型直讀光譜儀
品/FilmStress128系列/linecard/linecard滾動(dòng)-14055370109-wm.jpg)
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